Стенд контроля начальных стадий роста металлических островковых тонких пленок и наноструктур и отработка режимов их формирования
Сидорова С.В., Исаева А.А. , Пронин М. А.
Ключевые слова:
Аннотация
Приведены области применения и преимущества использования островковых тонких пленок и наноструктур для областей науки и техники. Для контроля начальных стадий роста тонкопленочных покрытий организован стенд, представлены базовые экспериментальные исследования. Проведена отработка режимов формирования тонкопленочных покрытий. Построена математическая модель зависимости геометрических параметров пленки от параметров процесса.RND tool for investigation of initial phases of metal island thin films and nanostructures growth and their formation modes testing.
Sidorova S.V., A.A.Isaeva, M. A. Pronin
Keywords: