Ионно-пучковая аналитическая технология определения легких элементов в материалах

Егоров В.К, Егоров Е.В., Афанасьев М.С.
Ключевые слова:

Аннотация

Обсуждается экспериментальные и аналитические возможности комплекса ионно-пучковых методов исследования материалов для количественного определения содержания в них легких элементов. Дана общая и аналитическая характеристика методов ионно-пучковой диагностики и указаны важнейшие сферы ее применения. Представлен перечень необходимого аппаратурного обеспечения и обсуждены особенности процедуры пробоводготовки. Отдельное внимание уделено проблеме востребовательности методов ионно-пучкового анализа и степени их эффективности при определении содержания легких элементов в материальных объектах.

Quantitative analysis of light element content in materials by ion beam testing methods.

Egorov V.K., Egorov E.V., M.S.Afanas’ev
Keywords:

Abstract

Experimental and analytical possibilities of ion beam methods set for quantitative diagnostic of light element content in materials are discussed. Common analytical characteristics of ion beam methods for the material analysis and main fields of its application are presented. Experimental facility and methods of samples preparation are described. Specific attention is focused on the ion beam methods application for real object investigations and the degree of its efficiency for light element diagnostics in materials.