Некоторые результаты работы первого в мире сканирующего зондового микроскопа - спутника Земли в вакууме на высотах около 500 км.
Логинов Б.А , Хрипунов Ю.В, Щербина М.А, Смирнов А.А. , Нехаенко Н.С. , Гранаткин П.А., Hedeya H.Y.H. , Калназарова Н.. , Петряев Е.О. , Tanasa C.K., Ахророва Х.., Маккой А.К., Айнулова Д.Р., Плужник М.Н., Мизгайло А.А., Бобарыкина В.А., Мамикоян М.В., Измайлова А.Р.
Ключевые слова: СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП, СТМ, АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП, АСМ, СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СЗМ, СПУТНИК, ПЕРВЫЙ В МИРЕ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП — СПУТНИК
Аннотация
Присутствие вокруг Земли так называемого «протонного пояса» в вакууме на высоте выше 500 км над уровнем моря в настоящее время начало давать возможность проводить новые эксперименты по радиационному материаловедению в вакууме космоса ввиду открытия и успешного апробирования нового метода, явившегося развитием традиционных экспериментов в вакуумных ядерных и термоядерных установках [1]. Сам «протонный пояс» известно, что содержит протоны со скоростями до 200 км/с, а вот доставка до него исследуемых образцов вместе с аналитическим оборудованием стала новостью - не только из-за появления принципиальной возможности, но и из-за относительно доступной стоимости на уровне 10 миллионов рублей (2023г). Современный вакуумный сканирующий зондовый микроскоп «СММ-2000» с разрешением до 1 нм, был реализован в виде спутника Земли «Нанозонд-1» размером всего 300х100х100 мм (рис.1), и 27 июня 2023 года успешно запущен в космос на высоту 560 км в начало «протонного пояса». Правообладателем международного патента [2] на этот тип космических аппаратов является российское предприятие «Завод ПРОТОН», г. Зеленоград, изготовитель этих аппаратов.Some results from the world’s first satellite probe microscope at altitudes of about 500 km
B.A. Loginov, Y.V. Khripunov, M.A. Shcherbina, A.A. Smirnov, N.S. Nekhaenko, P.A. Granatkin, Hedeya H.Y.H. , N. Kalnazarova, E.O. Petryaev, Tanasa C.K., H. Akhrorova, A.K. McCoy, D.R. Ainulova, M.N. Pluzhnik, A.A. Mizgailo, V.A. Bobarykina, M.V. Mamikoyan, A.R. Izmailova
Keywords: SCANNING TUNNELING MICROSCOPE, STM, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AFM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, SPM, SATELLITE, THE WORLD'S FIRST SATELLITE SCANNING PROBE MICROSCOPE
