Изучение эпитаксиального соответствия карбида кремния на кремнии
Егоров В.К, Егоров Е.В., Кукушкин Д.Ю., Осипов А.В.
Ключевые слова:
Аннотация
В работе дана краткая характеристика метода каналирования ионов в материале, позволяющего однозначно интерпретировать наличие/отсутствие структурной гетероэпитаксии. Описаны структурные особенности кристаллического строения Si и SiC. Приведены экспериментальные данные, доказывающие наличие гетероэпитаксии в структурной композиции SiC (00l)/Si (111) для пленки политипа карбида кремния 6Н толщиной 100 нм.Study of silicon carbide epitaxy on silicon substrate
Egorov V.K., Egorov E.V., Kukushkin D.Y., A.V. Osipov
Keywords: