Изучение структурных свойств тонких пленок гексаферрита бария полученных методом ионно-лучевого нанесения

Шакирзянов Р.И., Миронович А.Ю., Костишин В.Г., Тимофеев В.А., Панин С.В.
Ключевые слова: Тонкие пленки, магнитные материалы, гексаферрит бария, ионно-лучевое нанесение

Аннотация

Методом ионно-лучевого нанесения с последующим отжигом получены тонкие магнитные пленки гексаферрита бария BaFe12O19 на подложках из Si, Al2O3, стекла. Актуальность исследования связана с изучением свойств поликристаллических ферритов в тонкопленочном состоянии, разработки новых технологий получения материалов для электроники, радио- и СВЧ-техники. В работе показано, что используемый метод ионно-лучевого нанесения позволяет получать тонкие магнитные пленки сложного состава с хорошим соотношением стехиометрии системы массопереноса материала мишень-подложка.    Структуру и состав полученных пленок исследовали методами рентгенофазового анализа, сканирующей электронной микроскопией и сканирующей зондовой микроскопией. Выявлено, что текстура нанесенных пленок в большой степени зависит от природы поверхности подложки. Дальнейший подбор параметров процесса нанесения, пост-отжига, а также варьирование подложек и буферных слоев позволит создавать текстурированные, анизотропные пленки гексаферритов.

Structure properties invesitagtion of barium hexaferrite thin films sputtered by ion-source method

R.I.Shakirzyanov, A.Y.Mironovich, V.G.Kosthyshin, V.A.Timofeev, S.V. Panin
Keywords: Thin films, magnetic materials, barium hexaferrite, ion beam deposition

Abstract

Thin magnetic films of barium hexaferrite BaFe12O19 on Si, Al2O3 and glass substrates were obtained by ion-beam deposition followed by annealing in air. The relevance of the study is associated with the investigation of the polycrystalline ferrites properties in the thin-film state, the development of new technologies for the production of materials for electronics, radio and microwave technology. It was shown that the ion-beam deposition method allows to obtain thin magnetic films of complex composition with a good stoichiometry ratio. The structure and composition of the obtained films were studied by x-ray phase analysis, scanning electron microscopy and scanning probe microscopy. It was revealed that the texture of the deposited films strongly depends on the nature of the surface of the substrate. Further selection of the deposition parameters, post-annealing, and variation of the substrates, buffer layers will allow to produce textured, anisotropic hexaferrite films.