Изучение структурных свойств тонких пленок гексаферрита бария полученных методом ионно-лучевого нанесения
Шакирзянов Р.И., Миронович А.Ю., Костишин В.Г., Тимофеев В.А., Панин С.В.
Ключевые слова: Тонкие пленки, магнитные материалы, гексаферрит бария, ионно-лучевое нанесение
Аннотация
Методом ионно-лучевого нанесения с последующим отжигом получены тонкие магнитные пленки гексаферрита бария BaFe12O19 на подложках из Si, Al2O3, стекла. Актуальность исследования связана с изучением свойств поликристаллических ферритов в тонкопленочном состоянии, разработки новых технологий получения материалов для электроники, радио- и СВЧ-техники. В работе показано, что используемый метод ионно-лучевого нанесения позволяет получать тонкие магнитные пленки сложного состава с хорошим соотношением стехиометрии системы массопереноса материала мишень-подложка. Структуру и состав полученных пленок исследовали методами рентгенофазового анализа, сканирующей электронной микроскопией и сканирующей зондовой микроскопией. Выявлено, что текстура нанесенных пленок в большой степени зависит от природы поверхности подложки. Дальнейший подбор параметров процесса нанесения, пост-отжига, а также варьирование подложек и буферных слоев позволит создавать текстурированные, анизотропные пленки гексаферритов.Structure properties invesitagtion of barium hexaferrite thin films sputtered by ion-source method
R.I.Shakirzyanov, A.Y.Mironovich, V.G.Kosthyshin, V.A.Timofeev, S.V. Panin
Keywords: Thin films, magnetic materials, barium hexaferrite, ion beam deposition